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    芯片推力测试仪

    • 型号P-24,MPT-01
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    芯片推力测试仪

    1. 详细信息

    P-24MPT-01为一套

            芯片推力测试仪,是测试芯片植入在卡体上的粘接力,先把植入有芯片的卡体用MPT-01夹具在芯片背面钻孔,然后放在P-24的推力测试仪上,旋转手柄,读出表盘上的读数。

    · 测试标准参考:Mcd

    · CQM测试标准参考:P-34

    · 测试方法参考:16.5.4    

    · CQM:16.1.18.6